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半導体デバイス検査用
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半導体デバイス検査用スプリングプローブ

両端プローブ、コンタクトプローブなどとも呼ばれているスプリングが内蔵された半導体デバイス製造の検査工程で使用されるプローブです。スプリングプローブはICソケットに組み込まれ、検査対象となるデバイスと基板を鉛直に繋ぐ電気経路となります。喜多製作所の優れた加工技術によって、低い抵抗値と高い耐久性を実現しています。その中でも「MARATHON」シリーズは半導体デバイス検査用スプリングプローブの標準品ラインナップです。

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