SEMICONDUCTOR
半導体デバイス検査用 - Kelvin

Kelvinの特徴

Kelvin Contact (4端子接続)

精度の高い検査で用いられる4端子測定に適したスプリングプローブをご提案。2本のプローブを半導体デバイスの1端子に接触させます。プローブ自体のピッチが0.3、0.4、0.5mmピッチの3ピッチから選択いただけます。

Kelvinの仕様

分類 ピッチ (mm) 全長 (mm) デバイス側先端 荷重(gf) 使用ストローク (mm) スプリング耐久回数 (Cycle) 固有抵抗値 (Ω) 使用温度 (℃) 最大許容電流 (A) バンド幅@-1dB (GHz)
材質 メッキ
カタログ 0.3 4.5 BeCu Au 15 0.3 1000K ≦0.2 -45~125 0.9 17.7
カタログ BeCu Au Alloy
カタログ 0.4 3.9 BeCu Au 22 0.45 1000K ≦0.05 -45~125 2.7 26.5
カタログ BeCu Au Alloy 1.5
カタログ 0.5 5.5 BeCu Au 31 0.45 500K ≦0.05 -45~140 2.4 8.4
カタログ BeCu Au Alloy 1.7
スプリングプローブ関連の専門メーカー
SPRING PROBE

ワンストップサービスを提供
ONE STOP

PAGETOP